MEMS探针卡
功能介绍
主要用晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接,通过传输信号对芯片参数进行测试。
产品介绍
主要用于晶圆测试时实现测试机与被测裸片的电气联接,通过传输信号对芯片参数进行测试。
  • 地址:深圳市龙华区龙华街道清宁路富安娜工业园D栋1楼

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